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KUNDIG測厚儀S-100
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KUNDIG測厚儀S-100

產(chǎn)品介紹

S-100是一款用于吹塑薄膜生產(chǎn)線的在線測厚儀,可在幾乎無接觸的情況下測量薄膜厚度。

該電容測量系統(tǒng)已被開發(fā)用于測量具有高百分比PA和/或EVOH的阻擋膜。S-100 TWIN同時測量平放寬度和薄膜的卷材位置。

測量傳感器可以安裝在折疊框架后的任何位置。由于其緊湊的設(shè)計,該系統(tǒng)總能找到足夠的位置,并且可以很容易地安裝在任何機器中。

安裝工作量很小,工廠技術(shù)人員可以輕松完成。因此,該系統(tǒng)立即投入使用。此外,其結(jié)構(gòu)提供了免維護服務(wù)、高可靠性和長使用壽命。

S-100是一種電容式厚度測量系統(tǒng),無需任何額外設(shè)置或校準即可測量阻擋膜。這也避免了其他傳統(tǒng)測量設(shè)備經(jīng)常發(fā)生的授權(quán)、調(diào)整、清潔和處置成本。

性能特點

  • 集成薄膜寬度測量與扭轉(zhuǎn)補償功能
  • 電容式厚度測量
  • 傳感器自動邊緣跟蹤

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)地

瑞士

電源

230 VAC±10%,50-60 Hz

功耗

max。110瓦

標稱電流

0.5 A

接通峰值電流

1.5 A

數(shù)據(jù)處理器

max。131°F(55°C)

測量頭

max。158°F(70°C)

運輸和儲存

-40°F至158°F(-40°C至70°C)

測量原理

電容式厚度測量(適用于所有電絕緣材料)

測量頻率

400kHz

測量范圍

5至300微米(單層薄膜厚度)> 300微米可定制

測量間隔

200ms

分辨率

0.1 µm(單層膜厚度)

校準后精度

5至10 µm(單層膜厚度)± 0.2 µm

> 10 µm(單層膜厚度)± 1%

溫度漂移

補償

環(huán)境溫度

73.4°F±3.6°F(23°C±2°C)

測定薄膜

約50°C的LDPE薄膜

產(chǎn)品應(yīng)用

  • 壓區(qū)后實現(xiàn)基本非接觸式厚度測量
  • 適用于聚乙烯(PE)、聚丙烯(PP)、聚酰胺(PA)、乙烯-乙烯醇共聚物(EVOH)、熱塑性聚氨酯(TPU)及類似材料制成的阻隔膜
  • 適用于粘性薄膜

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